Ympäristömittauspäivät 2010

Ymp logo.jpg


Measurepolis Development Oy, Oulun yliopiston Mittalaitelaboratorio ja Green Net Finland ry järjestivät kansalliset ympäristömittauspäivät 8-9.4.2010 Vuokatissa. Yli 100 ympäristömittausalan ammattilaista osallistui tilaisuuteen kuuntelemaan ympäristömittauksen uusista tuulista. Seminaari tarjosi myös loistavan tilaisuuden verkottautumiseen ja yhteistyön vauhdittamiseen yritysten, tutkimuslaitosten ja kehitysorganisaatioiden kesken.


Ympäristömittauspäivien ohjelma

Ympäristömittauspäivien ohjelma


Esitykset:

Torstai 8.4.2010

Seminaarin avaus, Lea Kauppi, Suomen ympäristökeskus

Teollisuuden näkökulma päästömittauksiin ja -rajoituksiin, Sirpa Silander, Teknologiateollisuus ry

Mittausalan kansainvälisistä yhteistyömahdollisuuksista, Kimmo Kanto, Tekes

Monitorointiteknologioiden kehittäminen CLEEN Oy:ssä, Tero Eklin, Mikes

Ympäristömittausten liiketoimintamahdollisuuksista, Heli Karaila, Metso Automation Oy

Helsinki Testbed 2005-2009: kokemuksia ja jatkosuunnitelmia, Heikki Turtiainen, Vaisala Oyj

Vaarallisten aineiden mittaus ilmasta, Jouni Salmi, Environics Oy

Reaaliaikainen hiukkasmittaus ilmasta, Juha Tikkanen, Pegasor Oy

Uudet ilmakuvausmenetelmät ympäristön kartoitukseen, Mikael Holm, PIEneering Oy

Julkisen datan vapauttaminen, Lauri Hietaniemi, Green Net Finland ry

Ultraherkät analysaattorit, Toni Laurila, Cambridgen yliopisto

Veden ladun ja määrän mittausjärjestelmät, Ilpo Niskanen, Oulun yliopisto / Mittalaitelaboratorio

Reaaliaikaiset veden laadun ja määrän mittaujärjestelmät, Risto Hiljanen, EHP-Tekniikka Oy

Vedenkäsittelyteknologioista, Jukka Tanninen, Outotec Oy

Perjantai 9.4.2010

Ympäristömittaukset ja tulevaisuuden haasteet, Anna-Leena Pitsinki, Agnico-Eagle Finland

Talvivaaran nikkelikaivos: mittaushaasteet, Eine Pöllänen, Talvivaaran Kaivososakeyhtiö Oyj


Henkilökohtaiset työkalut